功能用途:
通过在芯片上建立内建式的测试系统, 对混合信号芯片进行各种测试. 其功效为:
1) 因为无需使用外连的昂贵的混合信号测试仪器, 芯片的成本大大降低了;
2) 由于此系统可以与外部的测试仪器并行使用，总的测试时间大幅下降，这将进一步地降低芯片成本;
3) 由于芯片的测试不在依赖于外连的昂贵的测试仪器，最终的芯片用户可以对芯片的质量做随时随地的检查，这样带有嵌入式芯片测试系统的芯片的竞争力则大大提高了。
经济效益预测：
根据目前的研究成果，带有嵌入式芯片测试系统的芯片的总的测试时间将下降２０％左右，其最终成本将最低降低１０％，其经济效益是非常巨大的。
运作方式：技术合作或技术咨询
项目人：李宏志(德国)
联系方式：project@overseas.sh.cn
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